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簡要描述：FISCHER新型FMP30-40膜厚儀新的FMP30-40系列比標(biāo)準(zhǔn)型號FMP10-20更加通用。這些工具集成了其他特性，如為許多應(yīng)用程序提供更多內(nèi)存以及廣泛的統(tǒng)計和圖形評估。
產(chǎn)品型號： 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2025-03-28訪 問 量：1129詳細介紹
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FISCHER新型FMP30-40膜厚儀
新的FMP30-40系列比標(biāo)準(zhǔn)型號FMP10-20更加通用。這些工具集成了其他特性，如為許多應(yīng)用程序提供更多內(nèi)存以及廣泛的統(tǒng)計和圖形評估。公差限值可以輸入到可校準(zhǔn)的應(yīng)用中，生產(chǎn)過程可以統(tǒng)計分析。默認(rèn)模式可以切換為矩陣模式，用于連接的多點測量。這些只是下面描述的眾多特性中的一小部分。
根據(jù)您的測量應(yīng)用程序中,您可以根據(jù)磁感應(yīng)的涂層厚度測量方法(DELTASCOPE®FMP30),渦流方法(同位素探傷儀®FMP30)或根據(jù)這兩種方法結(jié)合在一個樂器(DUALSCOPE®FMP40)。您將能夠使用各種類型的費舍爾插件類型探針來度量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)或特殊的應(yīng)用程序。
主要特性：
自動基礎(chǔ)材料識別(FMP40)。
可存儲多達20000個讀數(shù)
多達100個可校準(zhǔn)的應(yīng)用程序
可將讀數(shù)分配至4,000個區(qū)塊
統(tǒng)計顯示塊中的公共特征值和終結(jié)果。特征方差分析值的輸出
圖形測量顯示為帶有高斯圖的直方圖
能夠顯示工藝公差范圍，并計算相關(guān)工藝性能指標(biāo)cp和cpk
當(dāng)超過極*，可發(fā)出聲音和視覺警告
外鍵觸發(fā)測量采集，如在直徑較小的空心圓筒中采集
通過未知涂層校準(zhǔn)的選項(只有磁感應(yīng)法)
能夠啟用矩陣測量模式的連接多點測量
平均測量數(shù)據(jù)的能力:只存儲幾個讀數(shù)的平均值
測量采集可通過區(qū)域測量實現(xiàn):只采集單個讀數(shù)，直到探測發(fā)射被捕獲并平均
 | Deltascope®FMP30 以及鋼和鐵上的油漆、漆、搪瓷或塑料涂層。 用于鋁上的陽極涂層以及非導(dǎo)電材料上的導(dǎo)電涂層。 這個通用儀器能夠測量鐵和鋼、非鐵磁性金屬和非導(dǎo)電材料上的許多涂層。 |
所有儀表的電源:4節(jié)AA電池或可充電電池組
(1)EΔ渦流方法
(2)MΔ磁感應(yīng)方法
(3)通過交流電源補充
注意:所有探測±1%的測量值或±。04密耳(1我¼m)哪個更大。
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